自動検査装置（ATE）向けソリューション

スマートフォンやロボット、自動車、家電製品など、私たちの生活に欠かせないさまざまな機器に半導体デバイスが使われており、その種類は機能、回路構成、構造に応じて多岐にわたります。

自動検査装置（ATE）は、これらの半導体デバイスが日々高度化している中で、その性能や品質、信頼性を検証する重要な装置であり、高い検査精度と安定性の維持が求められています。また、半導体デバイス産業のさらなる進化のため、優れた柔軟性、拡張性、長寿命、高スループット、保守頻度の最小化、小型化、そしてテストコストの低減と信頼性の向上が求められています。

オムロンは、お客様のニーズに対応した高品質な部品と革新的な製品を提供することで、お客様の自動検査装置の性能向上に貢献します。

  • IC検査システム IC検査・システム/IC検査・ハンドラ SOC検査装置
    メモリー検査装置
    RF検査装置     ロジックハンドラ
    メモリーハンドラ     リソースカード
    インタフェースボード
  • 半導体ウエハ検査装置 半導体ウエハ検査装置 自動検査装置
    プローバ
    ウエハハンドラ     プローブカード
    パフォーマンスボード
    リソースカード
  • インサーキットテスタ インサーキットテスタ ICT、プリント基板検査機
    PCBA検査装置
    インライン基板検査装置     機能試験機
    ファンクショナルテスタ
    物理層テスタ
  • 一般的な検査機 一般的な検査機 電子計測器
    デジタルマルチメータ
    オシロスコープ     パワーアナライザ
    シグナルアナライザ
    ネットワークアナライザ     信号発生器
    PXIシステム
    DAQシステム
  • 携帯機器・モジュール部品用インライン検査装置 携帯機器・モジュール部品用インライン検査装置 バッテリー駆動のデバイス
    ディスプレイモジュール
    スマートフォン     カメラモジュール
    ウェアラブルデバイス
    通信モジュール     ノートPC/タブレット
    携帯ゲーム機
    ポータブルハードディスク     電子タバコ
    ポータブルバッテリー
    VRヘッドセット
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01半導体検査装置向けの特化製品

01-1極小漏れ電流のMOS FETリレーモジュールG3VM-□MT

  • 独自のT型回路構造*により、DUTへの漏れ電流を大幅に抑制。
    *2021年5月当社調べ
Extremely low leak current mos-fet relay

お客様のメリット

  1. 漏れ電流が非常に低いため測定精度向上に貢献。
    *漏れ電流: 1pA以下
  2. リードリレーからの置き換えにより高い動作安定性・長寿命化に貢献。
  3. 小型パッケージ (5mm☓3.75mm☓2.7mm) で小型化を実現。
NEWG3VM-21MT NEWG3VM-61MT NEWG3VM-101MT G3VM-21MT データシート G3VM-MT製品概要 リファレンスデザインレポート 形G3VM-21MT/G3VM-61MT/G3VM-101MT MOS FETリレーモジュール 形G3VM-□MTプロモーション動画

01-2USBモジュール用長寿命テストソケット

  • 携帯機器のインラインテスト用の治具として開発。
  • USB 3.1 Type-Cコネクタに対応。
  • 電鋳技術を用いたプローブピンと独自のフローティング構造*を採用。
    *2019年12月　当社調べ
USBモジュール用長寿命テストソケット

お客様のメリット

  1. 高い耐久性を持ちメンテナンスの頻度を最小化。
    *高耐久性: 20万回以上
  2. 電気的検査での機器停止を抑制。
    *フローティング構造のため、試験機の挿入ミスが発生する場合があります。
  3. 樹脂製先端部とフローティング構造により、試験対象の製品を傷つけにくい。
XP2U-001 XP2U-001 データシート XP2U-001製品概要

01-3SPDT MOS FETリレーモジュールG3VM-□M□

SPDT MOS FETリレーモジュール

お客様のメリット

  1. 複雑なSPDT接点構成を1モジュール化し、基板設計の効率化に貢献。
  2. 小型化を実現するフットプリントパッケージ(50㎟)。
  3. リードリレーからの置き換えによる長寿命化・高信頼性化に貢献。
G3VM-66M G3VM-26M10 低Coffタイプ G3VM-26M11 低Ronタイプ G3VM-26M10 データシート White paper[形G3VM-66M MOS FETリレーモジュール] 詳細はこちら MOS FETリレーモジュール概要動画

01-48GHz帯小型DPDTリレー

  • 高速差動伝送信号切り替え用高周波リレー。
  • 高周波特性 (8GHzにて挿入損失3dB以下)。
GHz帯小型DPDTリレー

お客様のメリット

  1. シールド構造を最適化し周波数特性を向上。
  2. 1.7mm☓7.9mm☓7.1mmの超小型パッケージ。
  3. 高感度タイプで機器の省エネ (100mWの低消費電力)に貢献。
G6K-2F-RF-V G6K-2F-RF-V データシート White paper[形G6K-2F-RF-V サーフェス・マウント高周波リレー]詳細はこちら

02自動検査装置向けの用途事例について

02-1IC検査・システム

  • リレー
  • コネクタ
  • スイッチ
  • マイクロセンシングデバイス
インスツルメントとインタフェースボード
ICハンドラ (試験装置+ハンドラ)

02-2半導体ウエハ検査装置

  • リレー
  • コネクタ
  • スイッチ
半導体ウエハ検査装置

02-3インサーキットテスタ

  • リレー
  • コネクタ
  • マイクロセンシングデバイス
  • スイッチ
インサーキットテスタ

02-4一般的な検査機

  • リレー
  • コネクタ
  • スイッチ
一般的な検査機
Analyzer / Meter

02-5モジュール部品の試験装置/携帯機器の試験装置

  • リレー
  • コネクタ
module parts assembly line
camera module and display module
Device Assembly Line
portable devices