半導体検査装置（ATE）向けソリューション

スマートフォンやロボット、自動車、家電製品など、私たちの生活に欠かせないさまざまな機器に半導体デバイスが使われており、その種類は機能、回路構成、構造に応じて多岐にわたります。

半導体検査装置（ATE）は、これらの半導体デバイスが日々高度化している中で、その性能や品質、信頼性を検証する重要な装置であり、高い検査精度と安定性の維持が求められています。また、半導体デバイス産業のさらなる進化のため、優れた柔軟性、拡張性、長寿命、高スループット、保守頻度の最小化、小型化、そしてテストコストの低減と信頼性の向上が求められています。

オムロンは、お客様のニーズに対応した高品質で革新的な電子部品（MOS FETリレー、シグナルリレー、コネクタ、スイッチ、センサなど）を提供することで、お客様の半導体検査装置の性能向上に貢献します。

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1IC検査システム

  • リレー
  • コネクタ
  • スイッチ
  • マイクロセンシングデバイス
インスツルメントとインタフェースボード
IC検査ハンドラ (試験装置+ハンドラ)

2半導体ウエハ検査装置

  • リレー
  • コネクタ
  • スイッチ
半導体ウエハ検査装置

3インサーキットテスタ

  • リレー
  • コネクタ
  • マイクロセンシングデバイス
  • スイッチ
インサーキットテスタ

4一般的な検査機

  • リレー
  • コネクタ
  • スイッチ
一般的な検査機
Analyzer / Meter

5モジュール部品の検査装置/携帯機器の検査装置

  • リレー
  • コネクタ
module parts assembly line
camera module and display module
Device Assembly Line
portable devices

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