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オムロンは最大200℃の高温環境化でもご使用いただけるソケットタイプを用意しています。温度と電圧の負荷をかけ、初期不良を事前に除去するバーンイン試験などでも、長期にわたり安心してご使用いただけます。
また、ポゴピンと同等のサイズ設計で、現在ご使用されているポゴピンとの置き換えも可能です。
項目 | 仕様 |
---|---|
接触力 | 20gf at 1.0mm |
推奨ストローク | 1.0mm |
最大ストローク | 1.4mm |
接触抵抗 | 100mΩ |
定格電流 | 1A |
使用周囲温度 | -40~200℃ |
めっき | Au |
*仕様は参考値であり、カスタマイズ商品によって異なります。
各ピンとソケットは、実際のお客様の用途に合わせてカスタマイズ設計いたします。詳細はお問い合わせ下さい。
最大200℃の高温環境下で使用可能
ポゴピンはバネが内側にある構造が一般的です。そのため高温下で使用する場合、材料の組み合わせによっては、内側のバネと外側の筐体が溶着してしまう場合があります。しかし、オムロンの高温対応タイプの検査ピンは、熱に強い材料で制作したバネをピンの外側に配置することで、溶着しにくい構造を実現しています。
オムロンの高温対応タイプは、180℃の高温下で50万回動作後であっても、接触抵抗は100mΩ以下です。高温環境下でも、接触抵抗や機械的寿命による影響を受けることなく、正確な検査を行えます。
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
安定した接触で安心検査
ポゴピンは基本的にプランジャ、バネ、バレルの3つの設計で構成されており、プランジャとバネが接触することで導通します。そのため、接触性がバネの動きに依存してしまいます。オムロンの高温対応タイプは、プランジャ(上)とプランジャ(下)が接触することで導通します。プランジャ(下)がプランジャ(上)を左右から挟み込む接点構造で、十分な接触力を担保します。常に安定した接触により、接触抵抗のブレに左右されることなく正確な検査を実施いただけます。
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プランジャ(下)がプランジャ(上)を左右から挟み込む
接点構造で安定した接触を実現

バネとプランジャが接触することで導通する構造。
バネの動きに左右されるめ、接触が不安定
高耐久でメンテナンスの手間を軽減
お客様のアプリケーションに適したカスタムデザインの提案とオムロンオリジナルの材料ブレンド*により、ポゴピン製のソケットに比べて5倍以上の高耐久性を実現しています。検査現場において、検査ソケットの交換頻度を大きく低減し、生産効率向上に貢献します。
*特許第5077479号(P5077479)
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*BtoBコネクタ検査での一例です。

