次世代パワー半導体検査装置(ATE)向けSiC MOSFETリレー 推奨形式リスト

次世代パワー半導体検査装置では、高電圧領域の信号切替用途にリードリレーが広く使用されています。一方で、小型化や保守性の観点での課題もあり、高電圧・高耐圧に対応したSiC MOSFETリレーを活用することで、より効率的な検査の実現に貢献します。

以下のATE向けSiC MOSFETリレー推奨形式リストより、お客様のアプリケーションに適した商品をご確認ください。