3. 高周波対応

高周波用IC検査ソケット
高周波対応
項目 仕様
ピッチ 0.175/0.3/0.35/0.4/0.5mm 以上
ストローク 0.2mm 以上
CR 100mΩ 以下
RF 50Ghz 以下

※各ピンとソケットは、実際のお客様の用途に合わせて設計されます。詳細については、オムロンまでお問い合わせください。

形状はカスタマイズ可能です。 / 接点部の拡大図

高周波ICテストへ3つの価値をご提供

  • 【1. 高周波特性】 適合可能周波数帯域 :50 GHz まで 単一部材構成の検査ピンにより実現
  • 【2. 安定した一貫性】 内部接点のないEFCピン構造により繰り返し使用時の一貫性を実現
  • 【3. 高耐久性】 適切なカスタムデザインと特許済みユニーク材料により高耐久性を実現