vol.264 January 2023
20倍以上の挿抜回数を実現する
USB Type-C搭載機器検査ソケット
優れた耐久性とともに超低挿抜力で、検査作業者への負担軽減や挿抜の自動化に貢献。また、検査対象製品へのダメージを低減できます。
アプリケーション例
USB Type-Cコネクタを用いた製品検査（スマートフォンなど）
一般的なテストソケット、USB Type-Cケーブルとの性能比較＊1
| お客様への価値 | 形XP2U-001 | 一般的なテストソケット | 一般的なUSB Type-Cケーブル |
|---|---|---|---|
| 検査対象製品への ダメージ |
 回避可 |
起こりにくい |
 起こりやすい |
| 挿抜回数(高耐久性) |
 200,000回以上 |
3,000~10,000回 |
3,000回 |
| 超低挿抜力 (抜き差しに必要な力) |
非常に軽い |
軽い |
抵抗がある |
＊1. 2022年9月現在。当社調べ。
先端部樹脂化で検査対象製品への損傷を軽減
先端部が樹脂製のため、検査対象製品の損傷を軽減できます。また、端子部の上下左右に可動域を持たせるフローティング構造の採用により、自動検査工程でのコネクタ挿入ミスによる製品の損傷を予防します。
挿入試験20万回にも
耐える高耐久性
高硬度で優れたバネ性を持つ合金を使用した電鋳コンタクトピンの採用により、挿入試験20万回後でも安定した接触抵抗で導通を維持します。
ピン挿入試験20万回後でも、コンタクトピン接点部に十分な金めっき厚が残っている。
超低挿抜力で
作業負担を大幅軽減
一般的なUSB Type-Cケーブルに採用されているロック機構を排したアンロック構造を採用しました。一般的なUSB Type-Cケーブルに比べて約1/5～1/7程度の力での抜き差しが可能です。超低挿抜力により、検査工程において手作業での作業負担を大幅に軽減し、自動化にも貢献します。
形XP2U-001 オムロン独自＊2 のEFCプロセス技術：
コンタクトピンに使用されている電鋳加工技術
微細加工や電鋳工法を駆使したEFCプロセス技術で、
複雑でユニークな形状を実現
オムロン独自のEFCプロセス技術で、ミクロンオーダでの複雑な形状の加工を高精度で実現しました。複雑でユニークな形状が生成できるため、優れた耐久性・バネ性・伝導性を有したコンタクトピンの量産が可能です。
＊2.接点構造を形成する電鋳技術とその製造プロセスに関する2件の特許
（US8337261;US2013/0045617）を取得済み。
バネ性の高いピン設計で、揺れや衝撃による振動もバネ部が吸収し、接触障害が起こりにくい。
*2022年12月現在の内容です。
お断りなく仕様などを変更をすることがありますのでご了承ください。
